3B002
| 3B | Prüf-, Test- und Herstellungseinrichtungen | ||||||||||
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| 3B002 | Prüfgeräte, besonders konstruiert für das Testen von fertigen oder unfertigen Halbleiterbauelementen wievfolgt sowie besonders konstruierte Bestandteile und besonders konstruiertes Zubehör hierfür: | ||||||||||
| a) | zum Prüfen der S-Parameter von Transistoren bei Frequenzen grösser als 31,8 GHz, | ||||||||||
| b) | nicht belegt, | ||||||||||
| c) | zum Prüfen von integrierten Mikrowellenschaltungen, die von Unternummer 3A001b2 erfasst werden. | ||||||||||