| 2B005 |
Ausrüstung, besonders konstruiert
für die Abscheidung, Bearbeitung und Verfahrenskontrolle von
anorganischen Auflageschichten, sonstigen Schichten und
oberflächenverändernden Schichten, wie folgt, auf Substrate aus
Spalte 2 durch Verfahren aus Spalte 1, die in der nach Unternummer
2E003f
aufgeführten Tabelle dargestellt sind, und besonders konstruierte
Bauteile zur automatischen Handhabung, Positionierung, Bewegung und
Regelung hierfür: |
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a) |
Herstellungsausrüstung für die
chemische Beschichtung aus der Gasphase (CVD = chemical vapour
deposition) mit allen folgenden Eigenschaften: |
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Anmerkung: |
SIEHE AUCH NUMMER 2B105. |
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1. |
Verwendung eines für eine der
folgenden Beschichtungsarten abgeänderten Verfahrens: |
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a) |
CVD-Beschichten bei
pulsierendem Druck, |
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b) |
thermische Beschichtung mit
geregelter Keimbildung (CNTD = controlled nucleation thermal
deposition) oder |
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c) |
plasmaverstärktes oder
-unterstütztes CVD-Beschichten und |
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2. |
mit einer der folgenden
Eigenschaften: |
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a) |
mit rotierenden
Hochvakuumdichtungen (Druck kleiner/gleich 0,01 Pa)
oder |
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b) |
mit Schichtdickenüberwachung
in der Anlage; |
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b) |
Herstellungsausrüstung für die
Ionenimplantation mit Strahlströmen grösser/gleich 5 mA; |
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c) |
Herstellungsausrüstung für die
physikalische Beschichtung aus der Dampfphase (PVD = physical vapour
deposition) mittels Elektronenstrahl (EB-PVD) mit einer
Stromversorgungsanlage von mehr als 80 kW Nennleistung und mit einer
der folgenden Eigenschaften: |
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1. |
mit eingebautem
“Laser”-Regelsystem für den Stand des Flüssigkeitsbads, das die
Zufuhrgeschwindigkeit des Schichtwerkstoffs genau regelt,
oder |
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2. |
mit eingebautem Monitor zur
rechnergesteuerten Überwachung der Abscheiderate bei einer Schicht
aus zwei oder mehreren Elementen, wobei das Verfahren auf dem
Prinzip der Fotolumineszenz der ionisierten Atome im Dampfstrahl
beruht; |
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d) |
Herstellungsausrüstung für das
Plasmaspritzen mit einer der folgenden Eigenschaften: |
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1. |
Betrieb in geregelter
Schutzgasatmosphäre bei verringertem Druck (kleiner/gleich 10 kPa,
gemessen oberhalb des Spritzdüsenaustritts und innerhalb eines
Umkreises von 300 mm um den Austritt) in einer Vakuumkammer, in der
der Druck vor dem Spritzvorgang auf 0,01 Pa reduziert werden kann,
oder |
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2. |
mit Schichtdickenüberwachung
in der Anlage; |
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e) |
Herstellungsausrüstung für die
Kathodenzerstäubungs-(Sputter-)Beschichtung, geeignet für
Stromdichten von 0,1 mA/mm2 oder höher bei einer Beschichtungsrate
grösser/gleich 15 μm/h; |
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f) |
Herstellungsausrüstung für die
Bogenentladungs-Kathodenzerstäubungs-Beschichtung (cathodic arc
deposition), die über ein Gitter aus Elektromagneten zur Steuerung
des Auftreffpunkts des Lichtbogens auf der Kathode verfügt; |
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g) |
Herstellungsausrüstung zur
Ionenplattierung, geeignet um in der Anlage eine der folgenden
Eigenschaften zu messen: |
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1. |
Schichtdicke auf dem Substrat
und Abscheidegeschwindigkeit oder |
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2. |
optische
Eigenschaften. |
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Anmerkung: |
Nummer 2B005 erfasst nicht
Ausrüstung für chemische Beschichtung aus der Gasphase,
Bogenentladungs- Kathodenzerstäubungs-Beschichtung,
Kathodenzerstäubungs-Beschichtung, Ionenplattierung oder
Ionenimplantation, besonders konstruiert für Schneidwerkzeuge oder
für Werkzeuge zur spanenden Bearbeitung. |
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